（画像は公式サイトより引用）

アンリツは、10月開催のTOKYO PACK2026で、X検査機「XR76シリーズ」と「学習型AI検査オプション」を組み合わせた高度な品質検査を提案する。異物検査に加え、欠品や形状不良、整列不良、包装シール部のかみこみなど、多様なニーズへの対応を訴求する。

XRシリーズは、高性能のX線センサーと独自の画像処理技術により、微細な金属異物や密度の低い異物を高感度で検出する。検出性能の向上によって検出リミットに余裕を持たせることで、誤検出率を大幅に低減。目的に応じた自動感度設定にも対応するほか、画面デザインやユーザーインタフェースを一新し、直感的な操作を可能にした。

学習型AI検査オプションは、正常品と不良品の特徴をAIに学習させることで、人の目に近い判断を実現する。正常品と不良品のX線透過画像から特徴を抽出し、不良と判断すべきポイントに着目して検査することで、従来のアルゴリズムでは難しかった不良品を検出。誤検出を抑えながら検出精度の向上を図った。

導入後にユーザー自身でAIを再学習できる点も特徴。検出できなかった不良個所を画面上で囲んで指定するだけで、AIが新たな検査モデルを自動作成する。生産環境の変化に応じて検査精度を継続的に高めることができ、食品製造現場のさらなる省力化と品質向上を可能にする。

（包装タイムス2026年9月21日より引用）